半导体测试电源的测试数据实时分析与反馈系统
半导体芯片测试需高压电源提供精准的电压、电流输出，同时需实时监测测试过程中的电参数变化，传统电源仅具备数据采集功能，分析与反馈依赖外部设备，存在数据滞后、处理效率低的问题，易导致测试误差或漏判。
设计专业的实时分析与反馈系统，需构建 “高速采集 - 实时运算 - 动态调整” 的闭环链路。数据采集环节，采用 16 位高速 ADC 芯片，采样频率达 1MHz，同步采集电源输出电压、电流、纹波及芯片温度数据，通过光纤传输至处理单元，避免电磁干扰导致的数据失真；处理单元搭载多核嵌入式处理器，运行实时分析算法：一方面通过小波变换提取数据特征，识别电压波动、电流尖峰等异常信号，异常检测准确率达 99.5%；另一方面建立测试参数阈值库，当数据超出阈值时，立即生成反馈指令。
反馈控制环节，处理器通过 PWM 信号调整电源功率模块，实现输出参数的动态修正，反馈响应时间小于 10ms；同时设计数据可视化界面，实时显示测试曲线与分析结果，支持数据存储与历史回溯，方便测试人员追溯问题。在芯片可靠性测试中，该系统可实时发现电源输出纹波超标问题，并在 5ms 内完成参数调整，测试误差降低至 ±0.5%，较传统方案缩短测试时间 30%，大幅提升半导体测试的准确性与效率。
