X射线荧光分析

X射线荧光分析(XRF)技术，是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。当原子受到X射线光子(初级X射线)或其他粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位时，原子内层电子便重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，同时发射出次级X射线光子，即X射线荧光：较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此X射线荧光的波长对不同元素是不同的。

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